一、顯微熔點(diǎn)測(cè)定儀應(yīng)用
顯微熔點(diǎn)儀是熔點(diǎn)儀的一種，用于測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。
主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。
二、顯微熔點(diǎn)測(cè)定儀常見型號(hào)
顯微熔點(diǎn)測(cè)定儀常見型號(hào)包括上海儀電物光SGWX-4B、SGWX-4A、SGWX-4，現(xiàn)舉例SGWX-4B來詳細(xì)說明。
三、顯微熔點(diǎn)測(cè)定儀SGWX-4B
主要技術(shù)參數(shù)如下：
熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫至320℃
測(cè)量重復(fù)性：±1℃ （在＜200℃時(shí)）
±2℃（在20 .0℃一320℃ 時(shí)）
溫度顯示最小值： 1℃
熔點(diǎn)觀察方式 ：單目顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù)： 40×
價(jià)格如下：
市場(chǎng)價(jià)格：￥5800
優(yōu)惠價(jià)格：￥4640
四、相關(guān)閱讀
SGWX-4A、SGWX-4B顯微熔點(diǎn)儀使用說明書
